ICT測試出來的不佳維修
日期:2021-11-24 08:44
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摘要: 1.ICT不佳的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例):
·SHORT FAIL 短路不佳,本應該短路的,實質上開路
·OPEN FAIL 開路不佳,本應該開路的,實質上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來...
1.ICT不佳的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例):
·SHORT FAIL 短路不佳,本應該短路的,實質上開路
·OPEN FAIL 開路不佳,本應該開路的,實質上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來應該是開路的
·SHORT FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試PIN開路,本來應該是短路的
2.總體來說,ICT不佳的維修,基本上都是從以下幾點進行:
·部品本身有誤配或不佳的情況發生
·ICT PINBOARD本身針點上有異物
·ICT PINBOARD 本身有針不佳
·PCB上的測試點無焊錫
·PCB上的測試點有異物
·PCB上的測試儀點光澤度看上去比較差,表面測試點上松香過多