ICT測試出來的不佳維修
日期：2021-11-24 08:44
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摘要： 1.ICT不佳的類型主要有以下幾種（以HIBEX MERCURY型ICT為例）：
·SHORT FAIL 短路不佳，本應該短路的，實質上開路
·OPEN FAIL 開路不佳，本應該開路的，實質上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性（電容除外）插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路，本來...
1.ICT不佳的類型主要有以下幾種（以HIBEX MERCURY型ICT為例）：
·SHORT FAIL 短路不佳，本應該短路的，實質上開路
·OPEN FAIL 開路不佳，本應該開路的，實質上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性（電容除外）插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路，本來應該是開路的
·SHORT FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試PIN開路，本來應該是短路的
2.總體來說，ICT不佳的維修，基本上都是從以下幾點進行：
·部品本身有誤配或不佳的情況發生
·ICT PINBOARD本身針點上有異物
·ICT PINBOARD 本身有針不佳
·PCB上的測試點無焊錫
·PCB上的測試點有異物
·PCB上的測試儀點光澤度看上去比較差，表面測試點上松香過多
