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    ICT,AOI,ATE,XAI,飛針測試比較

    日期:2022-01-11 12:59
    瀏覽次數:5506
    摘要:
    ICT,AOI,ATE,XAI,飛針測試比較
      AOI ICT ATE AXI 飛針
    成本 較高
    工作模式 光學測試 電氣測試 電氣測試 光學X射線 電氣測試
    測試對象 SMD SMD/DIP SMD/DIP BGA SMD/DIP
    檢測重點 物理損件 電氣+物理 電氣+物理 物理損件 電氣+物理
    開/短路 光學測試 電氣測試 電氣測試 光學測試 電氣測試
    夾具 有,成本低 有,成本很高
    時間/速度 較快 很慢
    誤判率 較低
    維護費用 較低
         使用以上設備主要目的都是為了提高生產工藝水平,提高生產質量也就是所謂制程良率。ICTATE飛針測試是通過電氣測試檢測元件,在檢測制程的同時也檢測元件的電氣良率,并可幫助維修提高出貨良率及提高返修效率。就ICT而言,各家軟/硬件電路各異,有的硬體設計復雜自我保護性高,硬體不易損壞,測試量程寬信號廣,如派捷PTI816。有的設計簡單成本低,無相關輔助保護電路設計,如:在待測帶電的情況下測試會損壞設備等。
    ICT,AOI,ATE,XAI,飛針測試比較

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