JTAG測試應用解決方案
1 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統方案概述
隨著通訊電子技術發展，芯片、單板、系統的復雜度不斷提高，體積不斷縮小，測試的難度、成本、周期都在急劇增加，基于IEEE1149標準的邊界掃描(boundary scan)JTAG測試技術就是在這種背景下應運而生的，并成為業界*成熟的DFT技術。
金鵬飛科技經過不懈努力，自主開發了金鵬飛邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統平臺。該JTAG測試產品符合電氣電子工程協會IEEE1149標準，可應用于產品設計、原型調試、生產測試、現場安裝、維修服務等產品生命周期的全過程JTAG測試需求，對降低測試難度、提高測試質量、提高產品故障定位能力等各個方面都有重大意義。
2 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統平臺
2.1JTAG產品概述
JTAG測試系統軟件平臺全中文界面，支持WINDOWS NT/2000/XP，自動化程度高，操作便捷 邊界掃描(boundary-scan)JTAG測試系統平臺以下一代測試平臺為目標，產品功能特色顯著：提供開發調試、小批量驗證、批量生產和市場服務的綜合JTAG測試解決方案；集成電路板級/系統級工藝測試診斷、ISP編程、開發調試功能；提供開放的工業級標準腳本開發語言；提供多功能非BS擴展測試；提供文檔鎖定功能；支持邏輯功能自學習功能；兼容各種標準數據接口等。
2.2邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統平臺功能
◆JTAG掃描鏈路分析測試
◆BS器件安裝檢查
◆電路板DFT設計檢查
◆電路板工藝互連測試
◆故障定位診斷
◆非BS擴展測試
◆物理接口測試
◆電路板可靠性驗證
◆CLUSTER邏輯功能驗證
◆ASIC芯片功能驗證
◆信號采樣調試
◆CPU讀寫調試
◆FLASH加載
◆存儲器測試
◆FPGA/EPLD編程
2.3邊界掃描(boundary scan)JTAG測試平臺軟件
| 模塊 | 功能 | 描述 |
| 基礎管理模塊 | JTAG測試工程管理 | 完成JTAG測試工程建立、打開、關閉等操作； 完成對BSDL/網表等JTAG測試工程信息的編譯。 完成JTAG測試掃描鏈編輯、配置及切換操作； |
| JTAG測試基礎測試 | 完成JTAG掃描鏈路自檢功能。 | |
| JTAG測試IDCODE測試 | 完成對邊界掃描(boundary-scan)器件的IDCODE校驗JTAG測試； 確認器件的生產廠商、類型及版本等信息。 確認BS器件安裝是否正確，排除錯焊、漏焊等缺陷； | |
| JTAG測試USERCODE測試 | 完成USERCODE校驗JTAG測試； 確認是否為客戶軟硬件版本等相關信息； | |
| JTAG測試庫管理 | 完成JTAG測試CPU庫、FLASH庫、合并庫等資料的管理； | |
| 生產測試模塊 | 互連JTAG測試 | 完成基礎可測試網絡自動互連JTAG測試； 完成擴展可測試網絡自動互連JTAG測試；完成電阻、244等器件網絡自動優化處理，提高JTAG測試覆蓋率和自動化程度。完成多種互連JTAG測試算法，自動產生JTAG測試矢量[ATPG]； 完成多種JTAG測試故障診斷算法，故障定位及效率大大提升。 |
| 腳本JTAG測試 | 提供標準工業級腳本測試功能； 支持工程師實現各種交互測試功能的JTAG測試二次開發：FIFO總線、RAM總線、PCI總線等，可以使用腳本對各信號進行控制，從而完成相關的功能測試； 支持對外圍接口電路進行仿真測試；支持對非BS器件擴展的JTAG測試開發：支持AD、DA、接插件及其他非BS器件信號的測試，有效提升JTAG測試覆蓋率；支持資源共享和JTAG測試項的快速開發； | |
| 存儲器JTAG測試 | 完成存儲器外圍互連JTAG測試和單元功能測試； 支持多種測試算法自動生成JTAG測試矢量； 支持存儲器的BIST JTAG測試； 完成多種缺陷的JTAG測試檢測定位； | |
| RUNBISTJTAG測試 | 完成BIST結構芯片的內部功能JTAG自測試； 支持ASIC芯片設計的JTAG驗證測試； | |
| INTESTJTAG測試 | 完成芯片的INTEST內部功能比對JTAG測試； 支持ASIC芯片設計的JTAG測試驗證 ； | |
| 自學習JTAG測試 | 完成組合邏輯電路、時鐘信號及網絡短路故障的自學習JTAG測試覆蓋，提高JTAG測試覆蓋率和自動化測試能力； | |
| CLUSTERJTAG測試 | 完成非BS組合邏輯電路功能的比對JTAG測試，提升JTAG測試效率和覆蓋率； | |
| JTAG測試列項管理 | 完成各項目的列表JTAG測試功能； 自動生成加載各種JTAG測試項，甚至包括測試腳本的執行等，簡化生產測試操作，提高生產測試操作效率，降低出錯的可能性。支持文件鎖定功能，具有下一帶測試工具顯著特征； | |
| 數據加載模塊 | FLASH加載 | 完成單板焊接完成后各種通用FLASH的在線加載和E2PROM的在板編程； 支持狗電路處理或異常的電路設計 |
| PLD/FPGA編程 | 完成PLD/FPGA加載。 支持SVF文件格式。 | |
| 開發調試模塊 | JTAG測試網絡覆蓋分析 | 完成網絡進行JTAG測試分類和統計； 完成DFT開發評估指導； 自動生成EXECL格式的JTAG測試覆蓋率報告； |
| JTAG測試規范檢查 | 完成對設計原理圖的網表分析，確保JTAG測試掃描鏈設計符合規范要求； | |
| JTAG測試故障插入 | 完成各BS器件的定時失效測試，驗證單板的容錯性能。支持攻擊型容錯測試的典型手段； | |
| CPU讀寫JTAG測試 | 完成CPU讀寫操作仿真，靈活存取各存儲器和寄存器數據；支持圖形顯示接口； | |
| 電路采樣JTAG測試 | 完成芯片正常工作下的芯片引腳信號采樣、觀察和分析。 支持圖形化顯示。 |
2.4邊界掃描(boundary scan)JTAG測試平臺硬件
| 模塊 | 模塊名 | 功能 | 應用場合 |
并口JTAG控制器 | LPT JTAG | 提供并行端口的 JTAG信號輸出 | JTAG測試、 研發仿真調試 |
| PCI總線 JTAG 控制器 | PCI JTAG | 提供PCI總線接口的 JTAG 信號輸出 | JTAG測試、PLD/FPGA編程、FLASH加載 |
| USB總線 JTAG 控制器 | USB JTAG | 提供USB總線接口的JTAG信號輸出 | JTAG 測試、PLD/FPGA編程、FLASH加載 |
3 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試平臺價值
◆優化用戶測試策略和測試流程；
◆加強了客戶對復雜產品的生產測試和現場維修測試能力；
◆提高可測試性設計水平；
◆提高了知識傳播效率和產品測試程序的及時性和有效性；
◆提升產品質量；
改善因產品復雜性和密度增加導致的測試難度；
改善用戶測試故障覆蓋率；
完善可靠性測試手段；
◆縮短產品上市時間；
縮短原型調試時間；
縮短生產測試裝備開發時間；
縮短生產準備時間；
縮短電路板測試和編程時間；
縮短故障定位診斷時間；
降低了對功能測試的依賴性，有助于突破功能測試的效率瓶頸；
◆降低生產測試成本
降低可編程器件的物流成本；
降低自動測試設備投資；
降低人員培訓成本；
降低市場維修服務成本和難度；
◆提供標準的ASIC邏輯設計測試驗證工具；
◆靈活的在線加載能力提升了產品定制能力；
