ict上IC的測試
日期：2021-10-28 22:12
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摘要：
ICT上IC的測試:
1 開短路測試法
測試IC各腳的開短路來測試我出不佳
2,保護二極體測試法
每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像
3,HP TESTJET量測法（ivetp)
HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。
1) 由于采用ReedRelay 的ScannerBoard，Guarding 能力強，因此測試效果好。
2) 由于干擾處理能力強，因此對SMD
Type Connector的量測相當可靠
3) 其對ＩＣ的可測率達到９５％以上
4 ISSCAN功能測試
此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.
5功能測試還支持
1)穩壓管的穩壓值測試
2)LED的測試
3)電機馬達的測試
ict上IC的測試
