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    ict上IC的測試

    日期:2021-10-28 22:12
    瀏覽次數:3718
    摘要:

    ICT上IC的測試:
    1
    開短路測試法

      測試IC各腳的開短路來測試我出不佳

    2,保護二極體測試法

      每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

    3,HP TESTJET量測法(ivetp)

    HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

    1) 由于采用ReedRelay ScannerBoardGuarding 能力強,因此測試效果好。

     

    2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

        Type Connector的量測相當可靠

    3) 其對IC的可測率達到95%以上

    4 ISSCAN功能測試

     此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.

    5功能測試還支持

     1)穩壓管的穩壓值測試

     2)LED的測試

     3)電機馬達的測試
    ict上IC的測試

    粵公網安備 44030602001522號

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